TCL首夺中国质量奖,格创东智以数智实力筑牢质量基石
9 月 16 日,TCL科技以“极致、领先、协同”的质量管理模式,荣获第五届中国质量奖,成为广东省与大湾区本届唯一获奖企业。这一荣誉不仅是对TCL质量管理体系的全面认可,更是其背后智能制造与数字化转型核心力量——格创东智,在工业质量数智化方面的深度赋能与价值体现。
作为TCL战略孵化的工业智能领军企业,格创东智早已超越传统的“软件服务商”,成为深度融合AI、工业软件、智能装备与行业Know-How 的AI 驱动的工业智能解决方案提供商。在陪伴式服务TCL数字化转型的7年以来,沉淀了丰富的质量管理场景化案例。
在TCL华星的智能制造体系中,格创东智通过ADC自动缺陷分类系统和AOI自动光学检测设备实现了质量检测的智能化突破。面对面板行业缺陷种类多、判片效率低、人力依赖高的痛点,格创东智自主研发的天枢DUBHE-S200H智能视觉检测系统,融合深度学习和传统算法,实现对屏幕点、线、Mura等细微缺陷的精准捕捉,检出率超过95%,准确率高于 99%。系统与MES、SPC系统无缝集成,实现检测数据实时上传、分析反馈和闭环管理,不仅大幅提升质检效率和一致性,每年还为TCL华星带来千万级的效益提升。
此外,格创东智与TCL华星共研共建的YMS良率管理平台(下统称YMS)成功应用至其 3 大生产基地 9 个工厂,通过将良率相关的缺陷数据、设备参数数据、生产履历数据集成到系统平台,开发出良率监控、不良分析、过程分析等模块下111个功能,支撑良率管理工程师快速定位良率异常问题,高效开展多维度根因分析。其中,YMS创新应用CTQ分析方法,沉淀良率分析案例经验,为工厂全链路自动监控分析夯实基础。同时,YMS集成多因子分析工具、大数据分析工具和生成式AI,突破传统分析方法,进一步提升良率分析发掘异常根因的可能性。对比老旧EDA系统,YMS提升数据查询分析性能3倍以上;将良率异常分析时间从4小时缩短到0.5小时,提升效率80% 以上,该平台整体收益高达 1300 万元。
在中环领先的半导体材料生产环节,格创东智则通过QMS质量管理系统平台构建起全流程质量追溯体系。补齐“IQC 管理”信息化短板,优化“问题管理”模块,加快“变更管理”建设,提升质量管理信息化水平。推动数据共享与协同效率提升约 15%,优化问题管理模块每年降低质量损失约 10 万元,更在行业低谷中,通过质量稳定性赢得了锐杰微等半导体客户的长期信赖。
在TCL中环的光伏组件制造板块,格创东智基于自研的成熟的QMS 系统为其攻克质量数据协同、追溯、统一的管理驾驶舱,提升质量管理效率 20%。值得关注的是,格创东智为TCL中环的光伏业务线打造的“领路者”经营分析系统,从质量管理延伸至经营质量层面。系统通过打通MES、QMS、ERP等多系统数据,实现对关键质量指标如碎片率、转换效率、衰减率等的实时监控与跨厂区对标。管理者可在系统中逐层下钻,从集团层面一直追踪到产线、班次甚至设备层级,快速发现质量波动并推动改进。这一系统不仅帮助TCL中环在行业低迷时期实现精细化管理突围,更成为推动其从“工厂级质量管理”迈向“集团级质量协同”的核心引擎。
在TCL智能终端领域,格创东智的ADC、QMS 等系统也在TCL 空调、TCL 家电生产过程中充当“AI 判片数字员工”和“AI 质量管理员”等角色。
格创东智在质量管理领域的赋能,不仅体现在单一技术或系统层面,更体现在对制造全流程的深度融合与生态构建。从TCL华星的面板缺陷检测,到中环领先的硅片质量管理,再到TCL中环的光伏产业跨基地质量对标,格创东智通过ADC、QMS、SPC、YMS、LIMS 和 AOI等软硬一体解决方案,将质量管理工作从“事后检验”推向“实时预防”、从“经验驱动”升级为“数据驱动”,构建起TCL制造体系的质量护城河。
此次TCL荣获中国质量奖,是“中国制造”向“中国质造”转型的重要里程碑,也是对格创东智多年来深耕工业质量数智化领域的最佳认可。在未来,格创东智将继续深化在视觉检测、良率优化、质量追溯等领域的创新,助力TCL乃至中国制造业在全球竞争中持续提升质量话语权。