50+案例见证！格创东智SPC让工序发声，用数据决策，筑牢半导体品质根基
在晶圆厂与先进封测基地的精密车间里，每一片硅片的流转、每一次黄光曝光的参数、每道刻蚀工序的细微变化，都在实时传递着“工序的声音”。格创东智SPC（统计过程控制系统）以数据为耳，精准捕捉这些隐藏的信号，通过统计分析转化为可决策的洞察，已为50余家半导体企业带来良率提升、成本下降与客户信任的量化价值。
统计过程控制（Statistical Process Control，简称SPC），是一种通过统计技术对生产过程进行监控和管理的质量方法。它的核心智慧，在于将“事后检测”的被动模式升级为“过程预防”的主动管控，通过实时监控生产过程中的质量特性数据，区分正常波动与异常变异，在缺陷产生前发出预警，实现“防患于未然”。
半导体制造以其超精密、高复杂度、多工序联动的特性，对质量管控提出了极致要求。格创东智SPC深度贴合行业特性，构建了“数据采集→监控分析→预警联动→异常处理→持续改善”的完整PDCA循环：
向下贯通机台传感器、量测设备、厂务系统等实时数据，实现全要素质量数据接入；
向上联动MES（制造执行系统）、EAP（设备自动化系统）、QMS（质量管理系统），形成异常处置的闭环链路；
让每一个工艺参数都成为可追溯、可分析、可优化的品质依据。
格创东智深耕SPC领域，凭借六大核心优势，在市场中脱颖而出：
01 数据接入“无死角”，全链条品质覆盖
支持与MES、EAP、WMS及厂务等系统深度交互，通过接口自动采集、文件解析（txt/excel/csv）、自定义录入等多样化方式，实现IQC（进料检验）、IPQC（制程检验）、OQC（成品检验）、STC（出货检验）的全流程数据覆盖，打破“数据孤岛”，让每一个质量关键特性参数都能被精准捕捉。
02 系统设置“人性化”，适配产线动态需求
可批量配置规格标准与管控规则，内置智能算法自动更新管制限，动态适配产线能力变化；与MES高度集成，异常发生时自动触发机台/批次Hold机制，避免缺陷扩散，同时支持模块字典配置化，灵活响应不同工厂的个性化管控需求。
03 管控指标“全覆盖”，多维分析支撑决策
涵盖Xbar/S/R/X/MR/P/NP/C/U等多种计量、计数型Chart（控制图）；实时计算CA/Cpk/Ppk/CpmK/Abnormal Ratio等过程能力指标，提供箱线图、样本对比图、趋势图等可视化统计分析图表，内置8条标准WECO判异规则（支持系数自定义），全方位解析工艺波动，为工程师提供立体分析视角。
04 监控预警“实时化”，异常响应零延迟
心电图式实时监控看板直观呈现工艺波动，OOS（质量失控）、OOC（制程波动）、OOW（预警提示）三级智能告警体系，通过邮件、企业微信、飞书等多渠道实时推送（频率可调），确保异常信息第一时间触达责任人。
05 图形操作“高效化”，数据分析提效80%
支持Chart（图表）与Report（报表）双模式切换，一键实现图表合并、拆分、批量查看及强关联参数对比；历史规格线、控制线自动叠加，点位信息随筛随显，大幅缩短工程师问题分析时间。
06 架构交付“零顾虑”，安全与扩展双保障
采用按钮级权限管控与工厂/产线/部门数据隔离机制，确保数据安全；B/S架构支持浏览器直接访问，无用户数量限制，功能可灵活扩展且实现无感升级；依托50+项目落地经验与15+人专业交付团队，提供本地化服务，响应迅速高效。
依托丰富的半导体行业Know-how、专业的交付团队，格创东智SPC已在IDM、功率器件、Micro LED、IGBT、先进封测等多个领域成功落地50+项目，覆盖前道、后道、封测、材料全场景，用实绩赢得头部客户认可：
株洲某IDM企业：替换传统SPC系统后，凭借更先进的数据模型与批量处理能力，实现良率提升1%-5%，晶圆报废率降低10%-40%；
深圳某前道工厂：通过Online/Offline数据监控模型与MES联动的异常Hold机制，实现OCAP全流程线上化处理与信息同步，异常响应速度提升50%~90%；
扬州某封测企业：依托定制化CPK趋势报表与控制图模拟功能，精准统计CPK达标率并优化管制限，报表输出效率提升30%~60%，满足多元化客户审核需求。
数据显示，应用格创东智SPC的企业平均实现：产品良率提升10%、工作效率提升80%、异常及时响应率达100%。
在格创东智的智能化版图中，SPC并非孤立模块，而是与MES、EAP、FDC、QMS等系统协同，构建全栈国产CIM（计算机集成制造）软件体系的核心一环。它通过数据驱动打通“设备-工艺-品质-运营”链路，助力半导体工厂实现从“经验决策”到“数据决策”的转型，在激烈的行业竞争中筑牢品质根基，迈向零缺陷制造的终极目标。
选择格创东智SPC，让每一道工序的“声音”都被听见，让每一个数据都转化为品质升级的动力，让品质管控更精准、更高效、更智能！
